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        1、培訓過程中，如有部分內(nèi)容理解不透或消化不好，可免費在以后培訓班中重聽；
        2、培訓結束后,授課老師留給學員聯(lián)系方式,保障培訓效果,免費提供課后技術支持。
        3、培訓合格學員可享受免費推薦就業(yè)機會。

DFT可測試性設計培訓大綱

第一階段

課程大綱：

1. VLSI test

2. DFT要點

3. DFT設計流程

4. DFT設計技巧

5. Fault model

6. ATPG

7. ATPG技巧

8. Fault simulation

9. Fault 要點

10. Fault 技巧

11. Fault 流程

12. Scan

13. 掃描技巧

14. 掃描要點

15. 掃描流程

16. JTAG

17. Logic BIST

18. Test compression

19. Memory test

20. Memory 測試要點

21. Memory測試流程

22. Memory測試技巧

23. scan chain/ BSD/BIST　概念與設計方法

24.DFT 的測試原理/測試方法( D算法　向量產(chǎn)生與仿真)

25.BSD 基本單元和JTAG測試　

第二階段 SCAN synthesis

1.Scan概念及方法介紹

2.Scan實現(xiàn)流程及問題解決

3.Scan DRC violation講解及解決方法

4.Scan技巧

第三階段 ATPG

1.ATPG介紹

2.Fault models

3.Fault simulation

4.ATPG DRC Violation的解決方法

5.ATPG patten generation

6.測試壓縮及方法

7.ATPG patten驗證

8.ATPG技巧

第四階段 JTAG/1500

1.JTAG方法

2.JTAG及其擴展應用

3.JTAG實現(xiàn)及驗證

4.JTAG技巧

第五階段 BIST/MBIST

1.BIST/MBIST 方法

2.Memory類型介紹

3.BIST solution

4.MBIST算法

5.MBIST驗證

6.BIST/MBIST 技巧